本申請公開了一種碳
納米材料空間帶電粒子輻射效應(yīng)表征方法,通過對不同碳納米材料在不同能量的不同輻照源下的宏觀性能和微觀性能進(jìn)行表征,獲得碳納米材料在輻照作用下的退化規(guī)律及退化機制。材料受輻照后可能產(chǎn)生的機理主要包括電離損傷和位移損傷兩種方式,通過拉曼光譜(Raman)以及掃描電鏡(SEM)形貌表征能夠一定程度上確定材料內(nèi)部是否存在位移損傷效應(yīng)。而通過對材料內(nèi)部整體C/O比進(jìn)行定量測試獲得該數(shù)值與輻照注量的關(guān)系能夠?qū)Σ牧鲜茈婋x作用后化學(xué)鍵的斷裂情況進(jìn)行描述,從而確定其電離損傷情況。
聲明:
“碳納米材料空間帶電粒子輻射效應(yīng)表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)