本發(fā)明的實(shí)施例涉及無損檢測裝置及無損檢測方法。其中,一種無損檢測裝置包括:激勵(lì)部件、采集部件和探頭,所述激勵(lì)部件連接至所述探頭,并向所述探頭提供能量;所述探頭向待檢測工件發(fā)射第一信號(hào)并接收與所述第一信號(hào)相對(duì)應(yīng)的第二信號(hào);所述采集部件連接至所述探頭,并從所述探頭采集所述第一信號(hào)和所述第二信號(hào);其中,所述無損檢測裝置還包括探頭外圍組件,所述探頭外圍組件包圍所述探頭,從而在所述探頭的外圍形成使得所述探頭與外部環(huán)境隔絕的第一空間。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,能夠?qū)崿F(xiàn)適用于低溫環(huán)境的簡單易行的無損檢測,例如對(duì)超導(dǎo)磁體的無損檢測。
聲明:
“無損檢測裝置及無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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