本發(fā)明公開了一種基于透明導(dǎo)電薄膜電極材料的非接觸式漆膜厚度無損檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法,屬于漆膜厚度測(cè)量領(lǐng)域。該檢測(cè)系統(tǒng)通過共聚焦探頭發(fā)射的縱向光路,和電渦流探頭發(fā)射的橫向電磁波的路徑交匯處,設(shè)置透明導(dǎo)電薄膜電極材料;利用透明電極的導(dǎo)電性和透光性,使共聚焦探頭與電渦流探頭同時(shí)測(cè)量待測(cè)漆膜中同一待測(cè)區(qū)域的上、下表面,實(shí)現(xiàn)非接觸式檢測(cè)。利用該檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)方法,通過對(duì)電渦流探頭實(shí)施標(biāo)定操作,消除非接觸式測(cè)量過程中檢測(cè)距離對(duì)電渦流探頭結(jié)果的影響,并通過電渦流探頭的結(jié)果校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)得的待測(cè)漆膜厚度。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了漆膜厚度的非接觸式漆膜厚度無損檢測(cè),具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“基于透明導(dǎo)電薄膜電極材料的非接觸式漆膜厚度無損檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)