本公開涉及一種無損檢測裝置及方法,包括激光器、擴束器、毛玻璃組、光闌、待檢測對象、剪切裝置、成像透鏡、成像器件以及處理器。所述處理器用于根據(jù)所述待檢測對象進行加熱前后分別形成的散斑圖強度分布得到相位變化分布,通過相位變化非均勻區(qū)域分析出內(nèi)部缺陷。本發(fā)明所述的無損檢測裝置結構簡單,易于實現(xiàn),可以對所述待檢測對象內(nèi)部缺陷進行實時在線、全場分布測量。
聲明:
“無損檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)