本發(fā)明公開了一種多層次缺陷分類的氮化硅軸承球缺陷無損檢測裝置,包括上料機構(gòu)、水平送料機構(gòu)、行星輪系送料機構(gòu)、頂部檢測機構(gòu)、下部檢測機構(gòu)、出料機構(gòu);所述上料機構(gòu)位于水平送料機構(gòu)的前端;所述下部檢測機構(gòu)、出料機構(gòu)位于水平送料機構(gòu)的末端;所述頂部檢測機構(gòu)位于水平送料機構(gòu)中間段的上方;所述行星輪系送料機構(gòu)位于水平送料機構(gòu)結(jié)束段、下部檢測機構(gòu)、出料機構(gòu)的上方。本發(fā)明不僅實現(xiàn)了氮化硅軸承球外表面無損檢測以避免二次損傷,而且有效實現(xiàn)了全方位的檢測,具有廣闊的應(yīng)用和市場前景。
聲明:
“多層次缺陷分類的氮化硅軸承球缺陷無損檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)