一種密鑰自毀與無(wú)損恢復(fù)的實(shí)現(xiàn)方案,包括如下步驟:S1、在主電路板上設(shè)置機(jī)械開(kāi)關(guān);S2、在主
芯片內(nèi)設(shè)置密鑰自毀程序,并將主芯片安裝在主電路板上,主芯片實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)機(jī)械開(kāi)關(guān)的狀態(tài);S3、將主電路板安裝在終端機(jī)器外殼內(nèi)部,機(jī)械開(kāi)關(guān)包含A1和A2兩種狀態(tài);S4、當(dāng)主芯片檢測(cè)到機(jī)械開(kāi)關(guān)出現(xiàn)S3中的A2狀態(tài)時(shí),主芯片啟動(dòng)密鑰自毀程序,擦除主芯片內(nèi)存儲(chǔ)有密鑰的存儲(chǔ)區(qū)域,以實(shí)現(xiàn)密鑰的毀滅;S5、當(dāng)因正常維修產(chǎn)品觸發(fā)密鑰自毀時(shí),將終端機(jī)器上的串口與電腦串口連接,在電腦上重新下載密鑰并傳輸至主芯片上,以實(shí)現(xiàn)密鑰的無(wú)損恢復(fù)。本發(fā)明能實(shí)現(xiàn)密鑰的自毀和無(wú)損恢復(fù),安全,可靠,可維修性好,適于批量生產(chǎn)。
聲明:
“密鑰自毀與無(wú)損恢復(fù)的實(shí)現(xiàn)方案” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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