本發(fā)明公開了一種透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng),檢測系統(tǒng)包括:光學(xué)測量系統(tǒng)、光學(xué)分析系統(tǒng)和彩色共焦數(shù)據(jù)處理程序。光學(xué)測量系統(tǒng)用于光的輸出并接收被測透明材料表面及內(nèi)部缺陷的反射光,將其輸出到光學(xué)分析系統(tǒng);光學(xué)分析系統(tǒng),用于接收透明材料表面及內(nèi)部缺陷的反射光;彩色共焦數(shù)據(jù)處理程序,用于對光學(xué)分析系統(tǒng)獲取的反射光進(jìn)行分析以獲取反射峰對應(yīng)的波長值,再對此波長值進(jìn)行處理以獲取被測透明材料的表面及內(nèi)部缺陷信息。本發(fā)明還提供了基于上述檢測系統(tǒng)的透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法。本發(fā)明的透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng),能夠快速、無損、準(zhǔn)確的對透明材料表面及內(nèi)部缺陷進(jìn)行定性定量地測量。
聲明:
“透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)