本發(fā)明涉及測量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種高濃度納米顆粒粒徑的測量方法及其檢測裝置。本發(fā)明所述方法能有效進行高濃度樣品測量,對樣品無干擾、無損傷,能快速、準確測量納米顆粒粒徑,所述裝置結(jié)構(gòu)簡單緊湊,小型實用,適合于現(xiàn)場或在線監(jiān)測的優(yōu)點。
聲明:
“高濃度納米顆粒粒徑的測量方法及其檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)