本發(fā)明公開了一種蜂巢結(jié)構(gòu)平面電容傳感器及薄層狀物成像檢測方法及裝置,涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,主要目的在于解決薄層狀物成像檢測技術(shù)問題。主要包括:蜂巢結(jié)構(gòu)平面?zhèn)鞲衅麝嚵?,蜂巢結(jié)構(gòu)傳感器的平面電容層析成像硬件裝置,采用T型開關(guān)組合設(shè)計實現(xiàn)電極工作模式切換硬件電路;新型傳感器陣列在單極激勵測量模式下,多通道信號采集部分結(jié)構(gòu)與采集控制方法。創(chuàng)新了敏感場均勻的蜂巢結(jié)構(gòu)的傳感器陣列設(shè)計,并用PCB FR4雙面板工藝制作;另外,創(chuàng)新了一種T型開關(guān)組合控制并實現(xiàn)傳感器陣列單極激勵測量模式多通道采集控制方法及電路設(shè)計。所述創(chuàng)新應(yīng)用于平面電容層析成像的檢測裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、快速響應(yīng)、非接觸和單側(cè)測量等優(yōu)點,為
復(fù)合材料層內(nèi)探傷或薄層狀物內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化檢測提供有效的手段。
聲明:
“蜂巢結(jié)構(gòu)平面電容傳感器及薄層狀物成像檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)