本發(fā)明屬于物證檢驗(yàn)領(lǐng)域,特別涉及一種紙幣檢驗(yàn)方法,其利用微束XRF無損分析實(shí)驗(yàn)樣品。在入射的微束X射線下,通過計(jì)算機(jī)軟件自動(dòng)控制樣品連續(xù)移動(dòng)對(duì)樣品進(jìn)行掃描,每個(gè)掃描點(diǎn)激發(fā)的特征X射線光子進(jìn)入能量檢測(cè)器,并通過放大器和多道分析器處理形成光譜,掃描結(jié)束后得到樣品的二維元素分布圖。最后將樣品紙幣的元素面分布特征與已知紙幣作比較,得出分析結(jié)果。該方法具有無損、靈敏度高,結(jié)果準(zhǔn)確等特點(diǎn),具有良好的應(yīng)用前景。
聲明:
“紙幣檢驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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