本公開提供了一種測定金屬材料內(nèi)部晶粒屬性的方法,獲取基于標(biāo)準(zhǔn)試樣的金屬材料的衰減系數(shù);對待測金屬材料進(jìn)行檢測,獲取多個針對待測金屬材料的多種數(shù)據(jù);根據(jù)檢測到的多種數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)試樣的金屬材料的衰減系數(shù)進(jìn)行比對,完成金屬材料內(nèi)部晶粒屬性的測定。該方法完成可以無損快捷地對金屬材料晶粒粗細(xì)度等級進(jìn)行測定,在生產(chǎn)檢驗(yàn)中可顯著提高現(xiàn)場產(chǎn)品檢測效率,是一種經(jīng)濟(jì)適用的檢測方法,且具有易用性與適用性,且該方法簡單快捷、經(jīng)濟(jì)適用、檢測效率高。本公開還提供了一種測定金屬材料內(nèi)部晶粒屬性的裝置。
聲明:
“測定金屬材料內(nèi)部晶粒屬性的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)