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      采用X射線熒光測定紅、藍(lán)寶石中元素含量的方法與系統(tǒng)

      806   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
      2023-03-19 08:58:31
      本發(fā)明提供了一種采用X射線熒光測定紅、藍(lán)寶石中元素含量的方法,所述方法包括:以Al2O3粉末為基底材料,混入雜質(zhì)元素的氧化物,雜質(zhì)元素包括Ti、V、Cr、Fe和Ga;調(diào)整雜質(zhì)元素的氧化物的混入含量;將調(diào)整后的雜質(zhì)元素的氧化物以及Al2O3粉末混合均勻并研磨至1000目以下后壓制成緊密的片狀;取X射線熒光光譜儀照射X射線至片狀的工作標(biāo)樣;獲取所述片狀的工作標(biāo)樣產(chǎn)生的熒光強度建立工作曲線;采用相同的測試條件測量待測紅、藍(lán)寶石的熒光強度,代入工作曲線中計算得出待測紅、藍(lán)寶石中的元素含量。實現(xiàn)對紅、藍(lán)寶石進行無損成分測量,方便檢測紅、藍(lán)寶石的成分,也節(jié)約成本、操作便捷。本發(fā)明還提供一種采用X射線熒光測定紅、藍(lán)寶石中元素含量的系統(tǒng)。
      聲明:
      “采用X射線熒光測定紅、藍(lán)寶石中元素含量的方法與系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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