本發(fā)明公開(kāi)了一種基于白光干涉法的微光纖直徑測(cè)量方法,包括:搭建臥式白光干涉光路;將微光纖夾裝在夾具后固定到三維載物臺(tái)上;移動(dòng)三維載物臺(tái),使白光干涉光路的成像位置在微光纖前側(cè);將夾裝好的待測(cè)微光纖進(jìn)行加熱;設(shè)置伺服位移系統(tǒng)的位移參數(shù),啟動(dòng)位移系統(tǒng),利用白光對(duì)待測(cè)微光纖進(jìn)行定時(shí)定距離的垂直掃描;掃描之后的反射光入射到CCD;對(duì)獲得的圖像進(jìn)行處理分析,計(jì)算出加熱拉伸過(guò)程中微光纖的直徑。本發(fā)明通過(guò)搭建臥式白光干涉光路實(shí)現(xiàn)微光纖直徑的測(cè)量,準(zhǔn)確計(jì)算出微光纖在加熱拉伸過(guò)程中直徑變化;檢測(cè)過(guò)程無(wú)接觸無(wú)損壞,不會(huì)對(duì)微光纖在加熱拉伸過(guò)程產(chǎn)生不利影響,整體穩(wěn)定性較高。
聲明:
“基于白光干涉法的微光纖直徑測(cè)量方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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