本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體三極管生產(chǎn)用測試裝置,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,包括主體機構(gòu)、壓力測試機構(gòu)、低溫測試機構(gòu)以及高溫測試機構(gòu)。在壓力測試機構(gòu)中,電缸通過其活塞桿的移動,驅(qū)動壓板向下壓動,且壓于三極管,可以測試封裝后的三極管的抗壓力性能;同時,在凸輪的運動下,能夠驅(qū)動第一振動板上下運動,第一振動板的上下運動帶動第一彈簧進行振動,第一彈簧振動下帶動第二振動板振動,從而可以模擬封裝后的三極管在不斷振動的條件下,內(nèi)部器件有無損壞;通過高溫測試機構(gòu),可以測試三極管在高溫狀態(tài)下的耐受力;通過低溫測試機構(gòu),可以測試三極管在低溫狀態(tài)下的耐受力。
聲明:
“半導(dǎo)體三極管生產(chǎn)用測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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