本發(fā)明公開了一種用于石英晶體振蕩器
芯片的性能評價(jià)測試裝置及方法。該測試裝置包括測試設(shè)備、晶體諧振器以及測試座,其中,測試座上設(shè)置有第一連接接頭、第二連接接頭以及多個(gè)測試觸點(diǎn),多個(gè)測試觸點(diǎn)用于與待測芯片的多個(gè)管腳接頭一一對應(yīng)地接觸,且多個(gè)測試觸點(diǎn)中的一部分與第一連接接頭電連接,第一連接接頭用于與測試設(shè)備電連接,多個(gè)測試觸點(diǎn)中的另一部分與第二連接接頭連接,第二連接接頭用于與晶體諧振器連接。本發(fā)明可以解決現(xiàn)有測試方法只能測試固定頻率和一種型號的芯片的問題,其具有測試無損傷、產(chǎn)品適配性好、應(yīng)用范圍廣、測試精度及測試效率高等特點(diǎn)和優(yōu)勢。
聲明:
“用于石英晶體振蕩器芯片的性能評價(jià)測試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)