本發(fā)明涉及一種電磁探傷系統(tǒng),該系統(tǒng)包含磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置和磁場(chǎng)檢測(cè)裝置,磁場(chǎng)檢測(cè)裝置通過檢測(cè)磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置產(chǎn)生的磁場(chǎng)對(duì)磁感元器件進(jìn)行探傷,其中磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置主要包括全橋逆變器、主控
芯片、交叉磁軛、電源檢測(cè)模塊,主要用于產(chǎn)生對(duì)工件進(jìn)行磁化的電磁場(chǎng);磁場(chǎng)檢測(cè)裝置包括霍爾傳感器陣列、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、數(shù)據(jù)顯示模塊,用于檢測(cè)和顯示磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置在工件各處產(chǎn)生的磁力線。本發(fā)明解決了磁粉探傷方式在無損檢測(cè)過程中的缺點(diǎn),同時(shí)又提高了單次充電的檢測(cè)時(shí)間、檢測(cè)范圍、檢出率和檢測(cè)速度。
聲明:
“基于霍爾傳感器陣列的電磁探傷方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)