本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種新型非接觸式電磁聲發(fā)射信號激勵的實驗裝置,所述新型非接觸式電磁聲發(fā)射信號激勵的實驗裝置設(shè)置有用于數(shù)據(jù)分析、運算信號處理模塊;與信號處理模塊連接,用于檢測弱電磁聲發(fā)射信號的聲發(fā)射信號采集系統(tǒng);與信號處理模塊連接,用于對檢測磁場強(qiáng)度的高斯計;所述聲發(fā)射信號采集系統(tǒng)通過放大器與固定在導(dǎo)電缺陷材料板四角的傳感器連接;所述高斯計與霍爾探針連接,所述霍爾探針設(shè)置在一組平行對應(yīng)的電磁鐵之間,所述的電磁鐵通過導(dǎo)線和程控電流源相連。目前缺陷檢測采用的聲發(fā)射信號采集方法存在可靠性低、穩(wěn)定性差、與被測材料之間有接觸、對被測材料造成損傷等不足的問題。
聲明:
“新型非接觸式電磁聲發(fā)射信號激勵的實驗裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)