本發(fā)明公開了一種晶閘管電壓監(jiān)測板的污穢失效測試方法,包括:模擬換流站閥廳電氣設(shè)備的實際污穢程度,對待測晶閘管電壓監(jiān)測板的表面進行涂污。調(diào)整當(dāng)前的環(huán)境相對濕度為預(yù)設(shè)的初始環(huán)境相對濕度,并對所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板進行加壓測試,記錄所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板發(fā)出回報信號時刻的脈沖寬度和對應(yīng)的電源電壓幅值。判斷所述脈沖寬度和電源電壓值是否均滿足標(biāo)準(zhǔn)范圍值;若是,則根據(jù)預(yù)設(shè)調(diào)整量調(diào)整所述初始環(huán)境相對濕度,再次進行加壓測試;若否,則判定所述待測晶閘管電壓監(jiān)測板在當(dāng)前的環(huán)境相對濕度下已失效,并結(jié)束污穢失效測試。本發(fā)明實施例能在預(yù)設(shè)污穢程度下確定晶閘管電壓監(jiān)測板的失效濕度,為其污穢失效機理提供實驗依據(jù)。
聲明:
“晶閘管電壓監(jiān)測板的污穢失效測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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