本發(fā)明公開了一種基于復合失效模式耦合的IGBT壽命預測方法及系統(tǒng),首先計算鍵合引線與焊料層的聯(lián)立失效概率模型;然后計算聯(lián)立失效概率模型的期望并記作耦合作用下的壽命;建立耦合函數(shù)關系式;預測焊料層與鍵合引線各自的壽命;建立不考慮耦合作用的IGBT壽命預測模型;建立考慮耦合作用的IGBT壽命預測模型。本發(fā)明能對焊料層與鍵合引線耦合作用下的IGBT模塊進行更準確的壽命預測。
聲明:
“基于復合失效模式耦合的IGBT壽命預測方法及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)