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      DRAM晶圓測試中精確捕獲失效地址的方法

      740   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
      2023-03-19 08:59:34
      本發(fā)明一種DRAM晶圓測試中精確捕獲失效地址的方法,包括如下步驟,步驟1,針對DRAM晶圓測試流程中的任意功能測試項,給每個功能測試項分配一個變量,變量與功能測試項一一對應(yīng);步驟2,根據(jù)測試需求,對變量在晶圓測試開始后一次性賦值,控制是否捕獲對應(yīng)測試項的失效地址;步驟3,在執(zhí)行功能測試項并通過地址失效寄存器AFM記錄對應(yīng)的失效地址后,根據(jù)當(dāng)前測試項以及當(dāng)前測試項的前一個測試項的變量賦值狀況,控制是否讀取地址失效寄存器AFM中的累積失效信息,并生成臨時文件;步驟4,通過對生成的臨時文件之間失效地址信息的比對,剔除掉重復(fù)的信息,最終生成當(dāng)前測試項的失效地址文件。
      聲明:
      “DRAM晶圓測試中精確捕獲失效地址的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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