本發(fā)明公開了一種監(jiān)測(cè)發(fā)光環(huán)境障礙涂層失效狀況的方法,首先對(duì)發(fā)光環(huán)境障礙涂層進(jìn)行熒光成像,若在熒光成像圖像中存在黑色區(qū)域,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層存在開裂或剝落區(qū)域,已經(jīng)發(fā)生了結(jié)構(gòu)宏觀失效,否則分別測(cè)量未受腐蝕的和待監(jiān)測(cè)的發(fā)光環(huán)境障礙涂層在特定激發(fā)波長(zhǎng)下的熒光光譜,并分別計(jì)算兩種光譜中對(duì)應(yīng)于激活離子電偶極躍遷的強(qiáng)度最大的特征峰和對(duì)應(yīng)于激活離子磁偶極躍遷的強(qiáng)度最大的特征峰之間的強(qiáng)度比,并計(jì)算強(qiáng)度比的變化值,若其絕對(duì)值≥20%,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層發(fā)生了結(jié)構(gòu)衰變。本方法靈敏度高,具有廣泛的適用對(duì)象和使用環(huán)境。
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