本發(fā)明公開了一種基于失效物理的元器件故障樹構(gòu)建方法,包括步驟:根據(jù)元器件失效物理共性特點,按失效物理6個層次構(gòu)建故障信息庫,形成6個失效物理層信息的故障信息庫;根據(jù)故障信息庫,按失效物理6個層次及失效物理邏輯關(guān)系構(gòu)建故障樹,形成6個失效物理層n級事件的元器件故障樹;采用機理子樹轉(zhuǎn)移和故障模塊子樹導(dǎo)入方式對所述元器件故障樹進行簡化。本發(fā)明還公開了一種基于失效物理的元器件故障樹構(gòu)建系統(tǒng),上述方法和系統(tǒng)建立的故障樹可深入到元器件失效物理層面進行分析,以節(jié)點事件形式準(zhǔn)確描述各失效模式的失效路徑、失效機理、機理因子和影響因素,滿足元器件故障樹分析和機理原因分析的需求。本方法和系統(tǒng)適用于各類元器件故障樹的構(gòu)建。
聲明:
“基于失效物理的元器件故障樹構(gòu)建方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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