本發(fā)明公開一種解決
芯片失效故障的方法,其包括:主CPU利用從CPU的空閑時間定時向從CPU發(fā)起業(yè)務功能檢測的測試消息請求,通知從CPU進行指定通道或話路的正常性測試;從CPU收到該測試消息請求后調用其內正常運行的程序模塊進行環(huán)回測試,判斷測試結果的正確性;從CPU測試完成后,根據(jù)測試結果向主CPU回復一條測試響應消息;主CPU根據(jù)測試響應消息進行相應處理,如果測試結果為正確,則不對該從CPU的話路分配做任何改動;如果測試結果為錯誤或等待測試響應消息超時,則主CPU將從CPU的所有話路分配的優(yōu)先級降低。通過采用該方法,可以提前發(fā)現(xiàn)故障隱患,確保了整個系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
聲明:
“解決芯片失效故障的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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