本發(fā)明提供了一種內(nèi)存檢測(cè)方法及裝置，其中，方法包括：S0：確定待測(cè)內(nèi)存中對(duì)應(yīng)同一個(gè)失效數(shù)據(jù)位的待測(cè)內(nèi)存顆粒的數(shù)量，以及確定每一個(gè)待測(cè)內(nèi)存顆粒的位置參數(shù)；并根據(jù)待測(cè)內(nèi)存顆粒的數(shù)量確定至少一個(gè)檢測(cè)參數(shù)；S1：根據(jù)每一個(gè)檢測(cè)參數(shù)的大小，選擇一個(gè)未被選擇過(guò)的一個(gè)檢測(cè)參數(shù)；S2：根據(jù)選擇的檢測(cè)參數(shù)，修改待測(cè)內(nèi)存的有效訪(fǎng)問(wèn)區(qū)域；S3：根據(jù)修改后的有效訪(fǎng)問(wèn)區(qū)域，訪(fǎng)問(wèn)待測(cè)內(nèi)存，并形成訪(fǎng)問(wèn)結(jié)果；S4：判斷訪(fǎng)問(wèn)結(jié)果是否為預(yù)設(shè)訪(fǎng)問(wèn)結(jié)果，如果是，則執(zhí)行步驟S1；否則，執(zhí)行步驟S5；S5：根據(jù)選擇的檢測(cè)參數(shù)，以及每一個(gè)待測(cè)內(nèi)存顆粒的位置參數(shù)，確定故障內(nèi)存顆粒。通過(guò)本發(fā)明的技術(shù)方案，可更為準(zhǔn)確的檢測(cè)出內(nèi)存的故障內(nèi)存顆粒。