本公開的實(shí)施例涉及一種電路檢測(cè)方法。所述方法包括以下步驟:獲取壓敏電阻兩端的電壓在采樣周期內(nèi)的多個(gè)采樣值;獲取流過壓敏電阻的漏電流在采樣周期內(nèi)的多個(gè)采樣值;基于電壓的多個(gè)采樣值和漏電流的多個(gè)采樣值,確定壓敏電阻在采樣周期內(nèi)的有功功率值和電壓的有效值;以及基于所確定的有功功率值和電壓的有效值確定壓敏電阻的阻性漏電流值以用于電路的故障檢測(cè)。借助于根據(jù)本公開的實(shí)施例的電路檢測(cè)方法,可以實(shí)現(xiàn)壓敏電阻的早期失效檢測(cè)。本公開的實(shí)施例還涉及一種電路檢測(cè)裝置。
聲明:
“用于電路檢測(cè)的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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