本發(fā)明實(shí)施例提供一種機(jī)臺(tái)插槽的異常偵測(cè)方法、修復(fù)方法和異常偵測(cè)系統(tǒng)。機(jī)臺(tái)包括多個(gè)插槽,插槽用于檢測(cè)
芯片,異常偵測(cè)方法包括:獲取第一失效率,第一失效率為過(guò)去的第一時(shí)間段內(nèi)每一插槽檢測(cè)的芯片的失效率;根據(jù)所有第一失效率,計(jì)算異常值;獲取第二失效率,第二失效率為過(guò)去的第二時(shí)間段內(nèi)的每一插槽檢測(cè)的芯片的失效率;第二時(shí)間段小于第一時(shí)間段,且第二時(shí)間段在第一時(shí)間段內(nèi);將第二失效率大于或等于異常值的插槽標(biāo)記為目標(biāo)插槽,將第二失效率小于異常值的插槽標(biāo)記為對(duì)照插槽;檢驗(yàn)第二時(shí)間段內(nèi)每一天的目標(biāo)插槽與對(duì)照插槽的失效率的差異的顯著性程度。本發(fā)明實(shí)施例能夠減小在偵測(cè)異常插槽時(shí)出現(xiàn)的誤差。
聲明:
“機(jī)臺(tái)插槽的異常偵測(cè)方法、修復(fù)方法和異常偵測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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