本實(shí)用新型涉及一種提高測試效率的半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測試電路。其包括功率循環(huán)測試電路本體;還包括若干與待測半導(dǎo)體器件樣品適配連接的器件樣品切換開關(guān)電路以及用于檢測所述待測半導(dǎo)體器件樣品測試狀態(tài)的器件樣品測試狀態(tài)檢測電路;任一器件樣品測試狀態(tài)檢測電路檢測到所適配連接的待測半導(dǎo)體器件樣品處于失效斷路狀態(tài)時(shí),測試控制電路控制與當(dāng)前處于失效斷路狀態(tài)適配連接的器件樣品切換開關(guān)電路處于閉合狀態(tài),以通過處于閉合狀態(tài)的器件樣品切換開關(guān)電路使得所適配連接的待測半導(dǎo)體器件樣品在功率循環(huán)測試電路本體內(nèi)處于短路狀態(tài)。本實(shí)用新型能保證功率循環(huán)測試的連續(xù)性,提高測試的效率與可靠性,降低測試成本。
聲明:
“提高測試效率的半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測試電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)