本發(fā)明提出一種繼承性大變形電阻應變片測試結構及測試方法,在測試區(qū)L兩端設兩個固結區(qū),將多個電阻應變片Y
i兩端固結在測試對象上;在測試區(qū)L范圍內,每個電阻應變片Y
i的長度為L
i?1<L
i≤L
i?1(1+δ)(i=2,...,i,...n),δ表示電阻應變片有效測試應變量程。當?shù)趇個電阻應變片Y
i失效時,第i+1個電阻應變片Y
1+1進入測試狀態(tài);變形測試數(shù)據(jù)為應變片Y
i數(shù)據(jù)疊加Y
i起始點同一時間點的Y
i?1末端數(shù)據(jù),以此類推完成大變形檢測。本發(fā)明將電阻應變片小變形測試優(yōu)勢拓展到大變形測試領域,能夠提高大變形檢測精度、拓展大變形檢測范圍,有很好的應用市場前景。
聲明:
“繼承性大變形電阻應變片測試結構及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)