本發(fā)明公開一種產(chǎn)品剩余壽命預(yù)測方法、裝置和系統(tǒng)。本發(fā)明的方法包括:構(gòu)建產(chǎn)品的衰退過程模型;利用產(chǎn)品運行過程中當(dāng)前狀態(tài)監(jiān)測時刻及當(dāng)前狀態(tài)檢測時刻之前的多個狀態(tài)檢測時刻對應(yīng)的狀態(tài)監(jiān)測數(shù)據(jù),分別獲得衰退速率參數(shù)和截距參數(shù)的后驗分布情況;根據(jù)后驗分布情況更新衰退速率參數(shù)和截距參數(shù),并獲得產(chǎn)品在未來時刻的預(yù)測狀態(tài);根據(jù)產(chǎn)品在未來時刻的預(yù)測狀態(tài)和產(chǎn)品的狀態(tài)閾值,獲得處于未來時刻至當(dāng)前狀態(tài)監(jiān)測時刻之間每個狀態(tài)監(jiān)測時刻產(chǎn)品的未失效概率,并根據(jù)產(chǎn)品的未失效概率獲得所述產(chǎn)品的剩余壽命。本發(fā)明的技術(shù)方案在過程噪聲較高和較低的場景下,都能獲得可靠地剩余壽命估計結(jié)果,為后續(xù)維修時間規(guī)劃提供可靠的指導(dǎo)。
聲明:
“產(chǎn)品剩余壽命預(yù)測方法、裝置和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)