本發(fā)明所公開內(nèi)容為在存儲器內(nèi)建自測試環(huán)境中對失敗的存儲器測試的測試響應(yīng)標(biāo)記進(jìn)行暫時(shí)壓縮的方法和器件,其目的是即使在檢測到多個(gè)與時(shí)間相關(guān)的存儲器測試故障時(shí)也能夠進(jìn)行存儲器內(nèi)建自測試操作。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中,被壓縮的測試響應(yīng)標(biāo)記在自動(dòng)化測試設(shè)備器件上與存儲器位置信息一起給出。根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例,帶有嵌入式存儲器(204)的集成電路以及存儲器BIST控制器(206)還包括用作標(biāo)記寄存器的線性反饋結(jié)構(gòu)(410),可在存儲器測試的某一測試步驟中對來自嵌入式存儲器陣列的測試響應(yīng)標(biāo)記進(jìn)行暫時(shí)壓縮。在各種實(shí)施例申,集成電路還可能包括失效字計(jì)數(shù)器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以對失敗的測試響應(yīng)收集存儲器位置信息。
聲明:
“使用線性反饋移位寄存器在存儲器內(nèi)建自測試環(huán)境中的故障診斷” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)