本發(fā)明提供了一種IGBT集電極漏電流健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法,包括以下步驟首先經(jīng)檢測(cè)合格的IGBT模塊,安裝調(diào)試完畢,投入使用之前,在一定條件下測(cè)試其集電極漏電流并記錄為初始值;定期測(cè)試IGBT器件的集電極漏電流并記錄為測(cè)試值;將測(cè)試值帶入集電極漏電流健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法仿真模型中,即可計(jì)算出IGBT器件的疲勞老化進(jìn)程與剩余壽命,達(dá)到監(jiān)測(cè)IGBT健康狀態(tài)的目的;當(dāng)集電極漏電流偏離程度達(dá)到失效標(biāo)準(zhǔn)時(shí),判定為器件失效,此時(shí)需對(duì)IGBT器件進(jìn)行更換,并重復(fù)上述步驟。本發(fā)明通過(guò)初始狀態(tài)標(biāo)定與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),即可對(duì)處于不同壽命階段的IGBT器件健康狀態(tài)與可靠性進(jìn)行有效評(píng)估。
聲明:
“基于集電極漏電流的IGBT健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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