本實(shí)用新型公開了測(cè)試裝置領(lǐng)域內(nèi)的一種RFID標(biāo)簽用耐彎折測(cè)試機(jī),其側(cè)支撐板一和側(cè)支撐板二之間設(shè)有若干外張緊輥和內(nèi)張緊輥,外張緊輥的外側(cè)和內(nèi)張緊輥的內(nèi)側(cè)之間繞裝有用于測(cè)試的RFID標(biāo)簽料帶;側(cè)支撐板一和側(cè)支撐板二的頂部設(shè)有上支撐板,上支撐板下方安裝有向下抵觸在RFID標(biāo)簽料帶上的糾偏輥,側(cè)支撐板一和側(cè)支撐板二之間還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)輥,RFID標(biāo)簽料帶繞過所述驅(qū)動(dòng)輥設(shè)置;側(cè)支撐板一和側(cè)支撐板二之間還設(shè)置有檢測(cè)支架,檢測(cè)支架上安裝有檢測(cè)裝置。該裝置可檢測(cè)RFID標(biāo)簽經(jīng)過多次彎折測(cè)試后是否失效,可驗(yàn)證不同制程參數(shù)對(duì)標(biāo)簽彎折測(cè)試的結(jié)果能否改善,通過內(nèi)部制程參數(shù)的變更來提升產(chǎn)品的可靠性。
聲明:
“RFID標(biāo)簽用耐彎折測(cè)試機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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