本發(fā)明提供了一種微電網(wǎng)的故障預(yù)測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備,獲取微電網(wǎng)的故障樹(shù)模型,計(jì)算所述故障樹(shù)模型的最小割集和最小徑集,依據(jù)計(jì)算得到的最小割集和最小徑集,計(jì)算每一所述基本事件發(fā)生時(shí)導(dǎo)致所述頂事件發(fā)生的重要度,基于每一所述基本事件發(fā)生時(shí)導(dǎo)致所述頂事件發(fā)生的重要度,對(duì)各基本事件進(jìn)行排序,得到排序結(jié)果,當(dāng)微電網(wǎng)失效時(shí),按照所述排序結(jié)果對(duì)所述微電網(wǎng)中的各基礎(chǔ)設(shè)備依次進(jìn)行檢測(cè),進(jìn)而可以?xún)?yōu)先對(duì)重要度較高的基礎(chǔ)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè),進(jìn)而能夠快速定位故障設(shè)備,省時(shí)省力。
聲明:
“微電網(wǎng)的故障預(yù)測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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