本發(fā)明公開了一種故障預(yù)測性能的評估方法及裝置,可以確定目標(biāo)板卡中的至少一個(gè)關(guān)鍵電路;確定各關(guān)鍵電路的關(guān)鍵失效模式失效率,確定目標(biāo)板卡的總關(guān)鍵失效模式失效率;分別確定各關(guān)鍵電路的關(guān)鍵失效模式失效率對應(yīng)的可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率,確定目標(biāo)板卡的總可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率;基于目標(biāo)板卡的總關(guān)鍵失效模式失效率和總可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率,確定目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率;基于目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率,評估對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測性能。本發(fā)明提出目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率這一評估性指標(biāo),并可以確定出目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率,利用確定出的預(yù)測覆蓋率實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測效果的定量評價(jià),有效實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測性能的評估。
聲明:
“故障預(yù)測性能的評估方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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