一種用于非易失性存儲器可靠性測試的方法,包括如下步驟:在K個分別 具有Nm個區(qū)塊的非易失性存儲器的每一個中分別選取N個區(qū)塊;對被選取的 K×N個區(qū)塊分別執(zhí)行T次測試程序,得到測試數(shù)據(jù);根據(jù)測試數(shù)據(jù),統(tǒng)計執(zhí) 行測試程序次數(shù)與該次數(shù)的測試中累計發(fā)生失效的區(qū)塊數(shù)目之間的數(shù)據(jù)關(guān)系 并繪制測試曲線;確定等效失效區(qū)塊數(shù)目判斷標(biāo)準(zhǔn);在測試曲線中讀出執(zhí)行次 數(shù)值對應(yīng)的失效數(shù)目;將得到的失效數(shù)目與等效失效區(qū)塊數(shù)目判斷標(biāo)準(zhǔn)相比 較,判斷是否合格。本發(fā)明還提供了一種用于非易失性存儲器可靠性測試的裝 置。本發(fā)明的優(yōu)點在于,所述測試方法和裝置在不喪失統(tǒng)計學(xué)意義情況下,降 低測試的時間,提高測試效率。
聲明:
“非易失性存儲器可靠性的測試方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)