本實(shí)用新型公開了一種電子直線加速器靶組件的可靠性測試設(shè)備,包括與每個(gè)電子直線加速器一一對(duì)應(yīng)連接的監(jiān)測裝置,監(jiān)測裝置用于對(duì)相應(yīng)的電子直線加速器中的靶組件的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測,獲取靶組件的運(yùn)行參數(shù);輸入端與各個(gè)監(jiān)測裝置的輸出端連接的處理器,用于輸出與靶組件中的各組件結(jié)構(gòu)分別對(duì)應(yīng)的失效率。本實(shí)用新型通過對(duì)每個(gè)電子直線加速器中的靶組件的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測,并通過處理器得到靶組件中的各組件結(jié)構(gòu)分別對(duì)應(yīng)的失效率,以便于工作人員根據(jù)個(gè)組件結(jié)構(gòu)的失效率確定出待優(yōu)化組件結(jié)構(gòu),并為后期靶組件的生產(chǎn)及質(zhì)量的提高提供依據(jù)。
聲明:
“電子直線加速器靶組件的可靠性測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)