本發(fā)明提供了一種基于功能安全的測(cè)試方法,包括以下步驟:S1、輸入待測(cè)安全模塊;S2、搜索
芯片安全機(jī)制庫和功能安全測(cè)試用例庫;S3、選定待測(cè)安全模塊全部安全機(jī)制和測(cè)試用例表;S4、確定全部待測(cè)安全機(jī)制對(duì)應(yīng)的故障模型和失效模式;S5、利用所述安全機(jī)制對(duì)應(yīng)的故障模型和測(cè)試腳本模板文件,生成選定待測(cè)安全模塊的所有故障注入測(cè)試腳本。本發(fā)明有益效果:本發(fā)明是基于功能安全測(cè)試流程的要求,通過對(duì)芯片安全機(jī)制庫、功能安全測(cè)試用例庫、故障注入測(cè)試腳本庫和失效模式庫的建立,大大縮短了同類型芯片功能安全測(cè)試的時(shí)間,考慮了功能安全測(cè)試過程中應(yīng)用的方法,給出了安全機(jī)制診斷覆蓋率導(dǎo)出方法。
聲明:
“基于功能安全的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)