本發(fā)明公開了一種在并行測試機(jī)臺上實現(xiàn)
芯片頻率微調(diào)的方法,在并行測試機(jī)臺的程序中將寫前一檔補(bǔ)正數(shù)據(jù)向量和讀下一檔讀時間向量合并為一個測試向量,得到多個測試向量,然后并行測試機(jī)臺依次執(zhí)行所述多個測試向量,不斷循環(huán)直到同測對象集合中所有被測的芯片全部失效剔除或到循環(huán)結(jié)束,最后將為通過狀態(tài)的硬件寄存器對應(yīng)的測試通道連接的被測芯片中最后寫入的芯片補(bǔ)正數(shù)據(jù)激活,各被測芯片中的時鐘周期微調(diào)電路根據(jù)最后寫入的芯片補(bǔ)正數(shù)據(jù)對時鐘周期進(jìn)行微調(diào)。本發(fā)明能對多芯片進(jìn)行頻率同測。
聲明:
“在并行測試機(jī)臺上實現(xiàn)芯片頻率微調(diào)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)