本發(fā)明一種存儲(chǔ)器
芯片內(nèi)建自測試方法和電路裝置,所述方法包括:將原始測試向量輸入至待測電路,以生成測試數(shù)據(jù)信號(hào);將原始測試向量輸入至寄存器中,使得原始測試向量與測試數(shù)據(jù)信號(hào)同步;對(duì)延遲后的原始測試向量和測試數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行邏輯異或運(yùn)算,以生成用于表示待測電路是否有效的測試結(jié)果指示信號(hào);將延遲后的原始測試向量的相位反轉(zhuǎn)180度生成反相測試向量,并將反相測試向量和測試數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行邏輯與非運(yùn)算,輸出邏輯狀態(tài)指示值,用于表示待測電路失效時(shí),測試數(shù)據(jù)信號(hào)的邏輯狀態(tài);根據(jù)測試結(jié)果指示信號(hào),擇一輸出用于表示待測電路的有效測試結(jié)果和邏輯狀態(tài)指示值中的一種。能夠判斷出待測電路是否有效,而且進(jìn)一步得到待測電路的失效形態(tài)。
聲明:
“存儲(chǔ)器芯片內(nèi)建自測試方法和電路裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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