本發(fā)明提供一種晶圓測試圖的顯示方法及系統(tǒng),包括獲取晶圓抽樣測試后晶圓上若干
芯片的屬性文件,接著通過一預(yù)設(shè)算法對所述屬性文件進(jìn)行修正處理,獲取所述晶圓上的若干芯片的修正文件,然后根據(jù)所述修正文件生成修正晶圓測試圖并進(jìn)行顯示。本發(fā)明通過修正晶圓上若干芯片的屬性文件,減少晶圓上相鄰測試芯片之間的距離,弱化未測試芯片的存在感,以增大測試芯片在設(shè)定晶圓測試圖顯示區(qū)域內(nèi)的顯示面積,使已測試的芯片在晶圓測試圖中突出顯示,便于觀察。另外,由于集中顯示了測試芯片,便于觀測測試芯片中失效芯片的整體分布情況。
聲明:
“晶圓測試圖的顯示方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)