本發(fā)明公開了一種陣列天線的環(huán)境篩選方法,主要包括以下步驟:在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓條件下,對受篩產(chǎn)品按產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的項目和要求進行初始功能檢測,記錄檢測數(shù)據(jù),檢測不合格的產(chǎn)品不進行環(huán)境應(yīng)力篩選;將功能檢測合格的受篩產(chǎn)品通過溫度循環(huán)以及振動循環(huán)同時進行功能檢測;然后在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進行最后的功能檢測。通過變溫箱循環(huán)10次,溫度在+85℃至?55℃,溫度變化速率5℃/min環(huán)境中以及震動環(huán)境中進行5min中的應(yīng)力測試,排除產(chǎn)品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效。
聲明:
“陣列天線的環(huán)境篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)