本發(fā)明公開了一種高壓采樣系統(tǒng)和方法,該系統(tǒng)包括第一電壓采樣電路,用于對待測電壓的電壓信號進行隔離降壓,然后對降壓后的電壓信號進行信號調(diào)理,并輸出第一采樣信號;第二電壓采樣電路,用于對所述待測電壓的電壓信號進行分壓和信號調(diào)理,并輸出第二采樣信號,或者用于直接對所述待測電壓的電壓信號進行隔離采樣,并輸出第二采樣信號;MCU,用于根據(jù)第一采樣信號和第二采樣信號確定待測電壓的輸出電壓。本發(fā)明通過兩種不同物理原理的采樣方式對待測電壓的電壓進行采樣,在保證了采樣實時性的同時,避免了共因失效,因此本發(fā)明具有較強的可靠性,滿足了ISO26262功能安全的冗余安全要求。本發(fā)明可以廣泛應用于電壓檢測技術(shù)領(lǐng)域。
聲明:
“高壓采樣系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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