本申請公開了一種翻新集成電路的識別裝置及其識別方法,識別裝置裝配于集成電路上,識別裝置包括:控制模塊、運(yùn)行模塊、基準(zhǔn)模塊和頻率比較模組;控制模塊,用于控制運(yùn)行模塊、基準(zhǔn)模塊和頻率比較模組工作;運(yùn)行模塊的工作模式為持續(xù)工作,且運(yùn)行模塊和集成電路中的主電路同步工作;基準(zhǔn)模塊的工作模式為間歇工作,且基準(zhǔn)模塊和運(yùn)行模塊的電路結(jié)構(gòu)相同;頻率比較模組,用于比較第一工作頻率和第二工作頻率,得到集成電路是否為翻新集成電路的識別結(jié)果,第一工作頻率為基準(zhǔn)模塊對應(yīng)的工作頻率,第二工作頻率為運(yùn)行模塊對應(yīng)的工作頻率。解決了現(xiàn)有翻新集成電路的識別采用失效分析的方法,在一定程度上造成了資源浪費(fèi)的技術(shù)問題。
聲明:
“翻新集成電路的識別裝置及其識別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)