本發(fā)明公開了一種自恢復(fù)抗單粒子軟錯誤累積的三模冗余結(jié)構(gòu),通過增加單粒子軟錯誤檢測電路和數(shù)據(jù)選擇電路對電路進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計,基于這種結(jié)構(gòu)的設(shè)計能夠在三模冗余結(jié)構(gòu)中單路信號翻轉(zhuǎn)后自行恢復(fù),能夠有效解決三模冗余結(jié)構(gòu)可能由錯誤累積導(dǎo)致單粒子加固失效的問題。
聲明:
“自恢復(fù)抗單粒子軟錯誤累積的三模冗余結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)