本發(fā)明公開了一種觸控顯示裝置異常處理方法,用于對(duì)觸控顯示裝置進(jìn)行異常檢測處理,包括步驟:TDDI集成
芯片對(duì)面板公共電極分塊掃描,獲取公共電極分塊運(yùn)行參數(shù);將運(yùn)行參數(shù)與規(guī)定閾值進(jìn)行比較,獲取公共電極分塊運(yùn)行異常分類結(jié)果;對(duì)TDDI集成芯片的掃描頻率或者負(fù)載輸入進(jìn)行修正,以消除運(yùn)行異常;運(yùn)行參數(shù)包括過孔信號(hào)、持續(xù)輸入負(fù)載。還公開了一種異常處理系統(tǒng)。通過對(duì)面板公共電極分塊掃描,獲取公共電極分塊運(yùn)行參數(shù),獲取公共電極塊的異常類型,例如過孔失效、重載輸入等,采取減小采集頻率、與周圍鄰近的VCOM分塊進(jìn)行短接及關(guān)閉采集頻率,從而減弱或者消除整面出現(xiàn)的個(gè)別發(fā)亮或發(fā)暗的VCOM分塊現(xiàn)象。
聲明:
“觸控顯示裝置異常處理方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)