本發(fā)明涉及一種MEMS可靠性評(píng)估方法,上述MEMS可靠性評(píng)估方法,包括如下步驟:獲取MEMS的懸臂梁失效率、
芯片失效率以及封裝失效率;對(duì)MEMS內(nèi)的元器件進(jìn)行測(cè)量,獲取所述MEMS的振動(dòng)系數(shù)、溫度系數(shù)、溫度幅值系數(shù)、循環(huán)率系數(shù);根據(jù)所述懸臂梁失效率、芯片失效率、封裝失效率、振動(dòng)系數(shù)、溫度系數(shù)、溫度幅值系數(shù)、循環(huán)率系數(shù)代入設(shè)定的評(píng)估模型獲取MEMS的可靠性。本發(fā)明提供的MEMS可靠性評(píng)估方法,通過獲取MEMS的懸臂梁失效率、芯片失效率以及封裝失效率;并對(duì)MEMS內(nèi)的元器件進(jìn)行測(cè)量,獲取所述MEMS的振動(dòng)系數(shù)、溫度系數(shù)、溫度幅值系數(shù)、循環(huán)率系數(shù),進(jìn)一步評(píng)估MEMS的可靠性,使MEMS可靠性的評(píng)估無需經(jīng)過通過大量試驗(yàn),可以有效提高評(píng)估的效率。
聲明:
“MEMS可靠性評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)