一種可達到最佳化靜態(tài)隨機存取存儲器的最小操作電壓的調(diào)整方法,其中的靜態(tài)隨機存取存儲器接收外設(shè)電路電壓及存儲單元電壓,其步驟包括:首先針對靜態(tài)隨機存取存儲器進行許目測試,藉以獲得許目測試圖及最小操作電壓。比較最小操作電壓與預(yù)設(shè)規(guī)格,并在許目測試圖上外設(shè)電路電壓等于存儲單元電壓的線上定位出預(yù)設(shè)規(guī)格所在的規(guī)格定位點。固定外設(shè)電路電壓或存儲單元電壓的其中之一,并遞減外設(shè)電路電壓或存儲單元電壓的另一,藉以針對靜態(tài)隨機存取存儲器進行測試,并獲得失效位數(shù)分布。最后,依據(jù)規(guī)格定位點以及失效位數(shù)分布調(diào)整靜態(tài)隨機存取存儲器的制程參數(shù)。
聲明:
“靜態(tài)隨機存取存儲器的操作電壓的調(diào)整方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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