本發(fā)明公開了一種評估行波管壽命的方法及其裝置,涉及器件可靠性測試技術(shù)領(lǐng)域,所述方法包括以下步驟:A:對信號(hào)源施加電偏置,當(dāng)陰極發(fā)射電流達(dá)到穩(wěn)定時(shí),監(jiān)測并記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù),包括敏感參數(shù)測試值和測試時(shí)間;B:剔除所述試驗(yàn)數(shù)據(jù)中的異常值;C:對剔除后的試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行建模,確定每個(gè)敏感參數(shù)的退化模型;D:利用所述退化模型,確定每個(gè)敏感參數(shù)失效判據(jù)的時(shí)間,其最小值即為樣品的外推壽命。本發(fā)明能夠減少試驗(yàn)時(shí)間,提高了評估的準(zhǔn)確性;本發(fā)明不要求器件在試驗(yàn)時(shí)發(fā)生失效,適用于長壽命器件的壽命評估。
聲明:
“評估行波管壽命的方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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