本發(fā)明公開了一種超低溫環(huán)境下原位加載微CT表征系統(tǒng)及其表征方法。本發(fā)明在力學(xué)試驗機上設(shè)置實驗環(huán)境箱體,一對夾具的末端固定在力學(xué)試驗機的橫梁上,頭端伸入至實驗環(huán)境箱體內(nèi)夾持試樣,并通過制冷裝置和加熱裝置控制實驗環(huán)境箱體內(nèi)的環(huán)境溫度,通過測溫元件實時反饋,并配合導(dǎo)流結(jié)構(gòu)加速實驗環(huán)境箱體內(nèi)熱量的傳遞,實現(xiàn)溫度快速精確的負(fù)反饋控制,力學(xué)試驗機通過夾具對試樣進行力學(xué)加載,同時微焦點X射線源通過防霧霜射線窗口對試樣進行微CT掃描,重構(gòu)超低溫環(huán)境下試樣原位受載時內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和損傷形貌,為超低溫環(huán)境下材料失效機理和損傷演化規(guī)律的研究奠定基礎(chǔ);通過防霧霜射線窗口,避免外側(cè)窗口薄片出現(xiàn)起霧和結(jié)霜的現(xiàn)象。
聲明:
“超低溫環(huán)境下原位加載微CT表征系統(tǒng)及其表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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