本發(fā)明公開了一種多維應力耦合的星上電子產(chǎn)品加速壽命試驗方法,該方法充分考慮電子產(chǎn)品的多維加速應力類型,產(chǎn)品的故障模式和失效機理,選擇傳統(tǒng)的單維加速壽命試驗模型,通過多維耦合應力處理方法,構(gòu)建多維應力加速壽命試驗模型,開展加速壽命試驗方案設(shè)計,具有很強的工程實用性,使得以往的加速壽命試驗工作在一定的工程研制條件下,例如多維應力耦合量化關(guān)系不明確,試驗條件無法考慮多應力的耦合關(guān)系,從而可以大大提高衛(wèi)星電子產(chǎn)品加速試驗的真實性和準確性;應用本發(fā)明的方法可以有效節(jié)省衛(wèi)星電子產(chǎn)品加速壽命試驗時間和成本,大大提高壽命預測的準確度,具有較大的經(jīng)濟效益。
聲明:
“多維應力耦合的星上電子產(chǎn)品加速壽命試驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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